HAST非飽和加速壽命試驗箱特點：

自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計，箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護。

圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。

臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

精密設(shè)計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。

箱內(nèi)壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式不同，可延長packing壽命。

圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗中結(jié)露滴水設(shè)計。

hast非飽和加速試驗箱適用測試標(biāo)準(zhǔn)：

JESD22-A102 無偏壓高壓蒸煮試驗 封裝IC（芯片）

JESD22-A110-E 高加速溫濕度應(yīng)力試驗（有偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

JESD22-A103-E 高溫貯存壽命試驗

IEC61215-10.13 晶體硅光伏組件溫箱試驗-濕熱試驗 太陽能光伏組件 減少試驗時間

HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化技術(shù)，主要應(yīng)用于芯片行業(yè)，用于模擬芯片在實際使用中可能遇到的環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境。通過這種測試方法，可以在短時間內(nèi)檢驗芯片的可靠性和壽命，從而避免在產(chǎn)品投放市場后出現(xiàn)潛在問題。

HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱的工作原理是將待測芯片置于高溫高濕的環(huán)境中，以一定的時間間隔進行加熱和加濕，模擬長時間使用后的可能問題。通過這種模擬環(huán)境的測試方法，可以快速發(fā)現(xiàn)芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和耐用性。

在具體操作中，HAST濕熱壽命老化箱的時間范圍可調(diào)，可以在0小時至999小時內(nèi)進行測試。這種靈活性使得測試人員可以根據(jù)具體需求和產(chǎn)品特性設(shè)置合適的測試時間，從而更好地評估產(chǎn)品的性能和可靠性。

HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱的濕度分布均度控制在±3%RH，確保每個測試樣本都能得到一致的測試條件。這種均度控制對于準(zhǔn)確評估產(chǎn)品的性能和可靠性至關(guān)重要。

HAST穩(wěn)態(tài)濕熱老化箱作為一種主流的加速老化測試技術(shù)，為提升產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性提供了有效的手段。通過模擬環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境，可以在短時間內(nèi)快速發(fā)現(xiàn)芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而及早采取措施進行改進和優(yōu)化。此外，HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱的靈活性和均度控制使得測試人員可以根據(jù)具體需求對產(chǎn)品進行全面評估，確保產(chǎn)品的性能和可靠性達到預(yù)期水平。

需要注意的是，雖然HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱可以模擬環(huán)境，但并不能代表實際使用的所有情況。因此，在產(chǎn)品開發(fā)過程中，除了使用HAST濕熱壽命老化箱進行加速老化測試外，還應(yīng)結(jié)合實際情況和其他測試方法，對產(chǎn)品進行多角度、的評估，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性達到水平。

在未來的電子產(chǎn)品設(shè)計中，質(zhì)量和可靠性將成為越來越重要的考量因素。而HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱作為一種主流的加速老化測試技術(shù)，將在提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性方面發(fā)揮更加重要的作用。